ДІАГНОСТУВАННЯ СКЛАДНИХ ЕЛЕКТРОННИХ СХЕМ НА ОСНОВІ МЕТОДУ НАВЧАЮЧИХ ТА ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК

Анотація

Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтуєть-
ся на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно ста-
ну складових частин електронних пристроїв (суть ― аналізу їх характеристик), можна виділити несправну
підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв.